分析展2010/科学機器展2010
新技術説明会のご案内

概要

2010年9月1日～3日まで幕張メッセ国際展示場において「分析展2010」「科学機器展2010」が開催されます。

会期中の9月2日(木)14:50～15:40、N-4（悠の間）において「高分解能電気インピーダンス・スペクトロメトリー法(Hi-Res EIS)：その活用法について」と題した新技術説明会をおこないます。

演題	高分解能電気インピーダンス・スペクトロメトリー法(Hi-Res EIS)：その活用法について
講師	Hans G. L. Coster（Director Biophysics and Bioengineering, School of Chemical and Biomolecular Engineering, University of Sydney）
概要	膜層の基礎研究や新ディバイスの開発には、その構造を解析し特性情報を知ることが大変重要です。この分野の測定法には、X線/中性子回析、EM (電子顕微鏡)、 AFM (原子間力顕微鏡)、XPS (X 線光電子分光法) などが用いられていますが、操作が煩雑で大規模な施設も必要です。この高分解能電気インピーダンス・スペクトロメトリー法は、膜層の特性や構造を解明するための新しいアプローチです。位相精度0.001°、インピーダンスマグニチュード精度0.002％の高い分解能が、薄膜内の物質層を精度高く分画 (8層以上) し、その構造や特性を解析します。この方法は、様々な有機膜、生体膜、半導体、脂質二重膜、簿膜光電池などの研究に活用が期待されます。
日時	9月2日（木）14:50～15:40
場所	N-4（悠の間）
定員	200名
URL	http://www.jaimasis.jp/2010/sys/user/newtecdetail.php?id=2921

参加希望のかたは下記申込用紙(PDF)に必要事項をご記入の上、申込用紙をそのままFAXにてご送信下さい。
なお、席には限りがありますので、お早めにお申し込みください。